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PDL測量儀PDL-201

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產(chǎn)品型號(hào)PDL-201

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全光科技（北京）有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品介紹　　采用GeneralPhotonics的最小光功率搜索技術(shù)，PDL測量儀PDL-201能在30ms內(nèi)，同時(shí)測量器件的偏振相關(guān)損耗PDL，插入損耗IL和光功率

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

　　采用GeneralPhotonics的最小光功率搜索技術(shù)，PDL測量儀PDL-201能在30 ms內(nèi)，同時(shí)測量器件的偏振相關(guān)損耗PDL，插入損耗IL和光功率。與擾偏法測量PDL具有很高的不確定性相比，PolaCHEXTM通過搜索和最小光功率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時(shí)刻的測量精度，因此可以得到確的PDL測量值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比Mueller矩陣法測得的PDL值更準(zhǔn)確。PDL-201有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，可用電腦控制。它能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于工廠或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的動(dòng)態(tài)范圍，以及用于集成的模擬輸出端口。

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