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青島立高檢測有限公司
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更新時間：2024-03-09 17:21:44瀏覽次數(shù)：216次
聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)場發(fā)射掃描電子顯微鏡-SEM廠家型號：德國蔡司SIGMAHD技術(shù)參數(shù)：具有高真空和可變壓力模式，實現(xiàn)了分析型場發(fā)射掃描電鏡的高清晰成像，并能夠在低加速電壓下（750V-3kV）和低探針電流下對樣品成像
場發(fā)射掃描電子顯微鏡-SEM
廠家型號：德國蔡司 SIGMA HD
技術(shù)參數(shù)：
具有高真空和可變壓力模式，實現(xiàn)了分析型場發(fā)射掃描電鏡的高清晰成像，并能夠在低加速電壓下（750V-3kV）和低探針電流下對樣品成像。
1.分辨率：1.3nm (20KV)；
2. 加速電壓：0.02-30KV；
3. 探針電流：4Pa-20nA；
4. 放大倍數(shù)：10-1000 000X ；
5．檢測器：In-lens 、SE、EsB、AsB、STEM檢測器；
6．能量譜儀(EDS)：X-MaxN20雙探測器系統(tǒng)（英國Oxford公司）。
應(yīng)用范圍
1．金屬、陶瓷、高分子、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、生物等材料的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察和分析；
2．各種材料微區(qū)化學(xué)分的定性和半定量檢測；
3．粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測定；
4．復(fù)合材料界面特性的研究。
表征項目：
SEM形貌，EDS點掃、線掃 、面掃mapping 。
樣品要求：
1.樣品形態(tài):試樣必須是化學(xué)和物理上穩(wěn)定的固體（塊狀、 片狀、纖維、粉末均可）；
2.樣品表面清潔，在高真空和電子束轟擊下不揮發(fā)、不變形，無放射性、無腐蝕性；
3.樣品量：粉末 5mg ，液體 0.5ml ; 樣品尺寸：長寬高≤ 30*30*10mm 。
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